簡要介紹
■元件測試儀是內(nèi)臺符合LXI標準的新代阻抗測試儀器，其0.1%的基本度、20Hz～5MHz
的頻率范圍可以滿足元件與材料大分低壓參數(shù)的測量要求，可廣泛應用于諸如傳聲器、諧振器、電感器、陶瓷電容器、液晶顯示器、變?nèi)荻堋⒆儔浩鞯刃兄T多電氣性能的分析及低ESR電容器和Q電感器的測量。
■產(chǎn)品速的測試速度使其別適用于自動線的點檢機，壓電器件的頻率響應曲線分析等等。其多種輸出阻抗模式可以適應各個電感變壓器廠家的不同標準需求。
■產(chǎn)品以其的性能可以實現(xiàn)商業(yè)標準和軍用標準如IEC和MIL標準的各種測試。
廣泛的測量對象
無源元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡元件等的阻抗參數(shù)評估和性能分析。
半導體元件：變?nèi)荻艿腃-VDC性；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析
其它元件：印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等的阻抗評估
介質(zhì)材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評估
磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估
半導體材料：半導體材料的介電常數(shù)、導電率和C-V性
液晶材料：液晶單元的介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V性